HAST高压加速老化试验箱

HAST高压加速老化试验箱在严苛的温度、湿度、压力环境下，检测产品的耐受性：线路板材料吸湿率、半导体封装性能、抗湿气能力，连接器、磁性材料、高分子材料、光合组件、EVA等产品加速老化寿命测试

性能参数

HAST高压加速老化试验箱

• 产品用途：严苛的温度、湿度、压力环境下，检测产品的耐受性：线路板材料吸湿率、半导体封装性能、抗湿气能力，连接器、磁性材料、高分子材料、光合组件、EVA等产品加速老化寿命测试

四种测试方法

产品规格（S：代表两层式）		DZX-402/S	DZX-404/S
不饱和控制	温度控制范围	+105~+142.9℃	+105~+162.2℃
	湿度控制范围%RH	75%~100%RH	75%~100%RH
	压力范围	0.020~0.196Mpa（表压力)	0.020~0.392Mpa（表压力)
	温湿度波动	＋0.3℃/士2.5%RH	士0.3℃/士2.5%RH
	空间的温度变化	3.0℃	3.0℃
	升温增压时间	0.196Mpa（表压力）约45分钟	0.392Mpa（表压力）约60分钟
湿饱和控制	温度控制范围	+105.0~+132.9℃	+105.0~+151.1℃
	压力范围	0.020~0.196Mpa（表压力)	0.020~0.392Mpa（表压力)
	压力范围	士0.3℃	士0.3℃
	温度波动	3.0℃	3.0℃
	空间的温度变化	0.196Mpa（表压力)约45分钟	0.392Mpa（表压力）约60分钟
	升温增压时间	0.196Mpa（表压力）约45分钟	0.392Mpa（表压力）约60分钟 +105~+162.2℃
干湿球温度控制	升温时	温度控制范围	+105.6~+142.9℃	+105.6~+162.2℃
		湿度控制范围	75%~98%RH	75%~98%RH
		升温增压时间	0.196Mpa（表压力)约45分钟	0.392Mpa（表压力）约60分钟
	试验时	温度控制范围	+105.6~+142.9℃	+105.6~+162.2℃
		湿度控制范围	75%~98%RH	75%~98%RH
		压力范围	0.020~0.196Mpa（表压力)	0.020~0.392Mpa（表压力)
		温湿度波动	士0.3℃/士2.5%RH	±0.3℃/士2.5%RH
		空间的温度变化	3.0℃	3.0℃
	降温时	温度控制范围	+50~+95.0℃	+50~+95.0℃
		温度下降时间	+142.9℃/ 75%RH~+85℃/85%RH约120分钟
	保存时	温度控制范围	+50~+95.0℃	+50~+95.0℃
		湿度控制范围	75%~95%RH	75%~95%RH
尺寸重量内箱f350*D426mm,外箱尺寸W950*高1650*1150mm，重量250KG
供电供水 220V交流1 550/60Hz,纯水︰电阻率0.5MQ.cm,PH值应在6.0~7.2，纱布200小时